磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬的導(dǎo)電性能對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響，基體金屬的電導(dǎo)率與其材料組成和熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬厚度
每個(gè)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于此厚度，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。
3、邊緣效應(yīng)
涂層測(cè)厚儀對(duì)樣品表面形狀的陡度很敏感。因此，在試樣邊緣或內(nèi)角附近測(cè)量是不可靠的。
4、 曲率
試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增大。因此，彎曲試樣表面的測(cè)量是不可靠的。
5、試件的變形
頭部使軟蓋標(biāo)本變形，因此無(wú)法在這些標(biāo)本上測(cè)量到可靠的數(shù)據(jù)。
6、表面粗糙度
基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。隨著粗糙度的增加，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在每次測(cè)量中，應(yīng)增加不同位置的測(cè)量次數(shù)，以克服這一偶然誤差。如果基體金屬是粗糙的，也必須從粗糙度相似的未涂層基體金屬試樣上取下幾個(gè)位置，或者，在涂層用不腐蝕基體金屬的溶液溶解后，必須再次檢查儀器的零點(diǎn)。
7、附著物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀對(duì)防止探針與覆蓋面緊密接觸的粘著材料很敏感。因此，必須除去附著物，以確保探頭與試件表面直接接觸。
8、 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
9、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的位置對(duì)測(cè)量有影響。測(cè)量時(shí)，測(cè)頭應(yīng)垂直于樣品表面。
